Kapat
0 Ürün
Alışveriş sepetinizde boş.
Kategoriler
    Filtreler
    Preferences
    Ara

    Modern Fizik Takviyeli Malzeme Karekrerizasyonu ve Temel İlkeleri

    Yazar : Z. Engin Erkmen
    ISBN :9786050330687
    Sayfa Sayısı :444
    Baskı Sayısı :2
    Ebatlar :16x24 cm
    Basım Yılı :2019
    370,00 ₺
    333,00 ₺

    Tükendi

    Tahmini Kargoya Veriliş Zamanı: 2-4 iş günü içerisinde tedarik edilip kargoya verilecektir.

     Modern Fizik Takviyeli Malzeme Karekrerizasyonu ve Temel İlkeleri

    Modern Fizik Takviyeli Malzeme Karakterizasyonu ve Temel İlkeleri başlıklı bu çalışmanın, ülkemizde bu konuda mevcut bir literatür eksikliğini gidermesi amaçlanmıştır. Eserde, optik mikroskop teknikleri, polarizasyon, X-ışınları ve elektron difraksiyonu, kristal yapısının belirlenmesi, elektron mikroskopisi ve spektroskopisi, Termal Analiz Süreçleri, FTIR (Fourier Transform Infrared Spektroskopisi), Floresan Mikroskopisi, DTEM (Dinamik Transmisyon Elektron Mikroskopisi), AFM (Atomik Kuvvet Mikroskobu) bir bütün olarak ele alınmış ve fizik problemleriyle desteklenmiştir. Sınav, ödev soruları ve cevapları da öğrencilere uygulama olması açısından ilave edilmiştir. Okuyucu, ayrıca Ek’ler kısmında ana metin ile ilgili daha karmaşık matematik çözümleri, ekstra tabloları, konularla ilgili örnekleri, buluşlara imza atmış tanınmış bilim insanlarının biyografilerini ve bilim tarihi ile ilgili makaleleri bulacaktır.

    Kendi yorumunuzu yazın
    • Sadece kayıtlı kullanıcılar yorum yazabilir.
    • Kötü
    • Mükemmel

     Modern Fizik Takviyeli Malzeme Karekrerizasyonu ve Temel İlkeleri

    Modern Fizik Takviyeli Malzeme Karakterizasyonu ve Temel İlkeleri başlıklı bu çalışmanın, ülkemizde bu konuda mevcut bir literatür eksikliğini gidermesi amaçlanmıştır. Eserde, optik mikroskop teknikleri, polarizasyon, X-ışınları ve elektron difraksiyonu, kristal yapısının belirlenmesi, elektron mikroskopisi ve spektroskopisi, Termal Analiz Süreçleri, FTIR (Fourier Transform Infrared Spektroskopisi), Floresan Mikroskopisi, DTEM (Dinamik Transmisyon Elektron Mikroskopisi), AFM (Atomik Kuvvet Mikroskobu) bir bütün olarak ele alınmış ve fizik problemleriyle desteklenmiştir. Sınav, ödev soruları ve cevapları da öğrencilere uygulama olması açısından ilave edilmiştir. Okuyucu, ayrıca Ek’ler kısmında ana metin ile ilgili daha karmaşık matematik çözümleri, ekstra tabloları, konularla ilgili örnekleri, buluşlara imza atmış tanınmış bilim insanlarının biyografilerini ve bilim tarihi ile ilgili makaleleri bulacaktır.

    Önerilen Ürünler

    Multiple Regression and Beyond 2e

    Timothy Z. Keith

    Fiyat ve temin süresi için lütfen bize ulaşın

    Serway Fen ve Mühendislik İçin Fizik 2

    Robert J. Beichner

    1000,00 ₺ 900,00 ₺
    Elektrik ve Manyetizma - Işık Optik

    Katıhal Elektroniği

    Şakir Aydoğan

    350,00 ₺ 315,00 ₺

    Genel Matematik 1

    1025,00 ₺ 922,50 ₺
    >